エレクトロニクス

数ヶ月を要する温度サイクル試験に頼りすぎていませんか？はんだ接合部の疲労破壊を支配する真の因子「塑性ひずみ」に注目し、コフィン・マンソン則を用いたシミュレーションによる寿命予測を解説。試験依存から脱却し、開発期間を劇的に短縮する設計思想を提案します。

加速試験でアレニウスの法則を使いながら、寿命予測が外れる原因を解説。文献値の活性化エネルギー（Ea）を流用する危険性と、実測データに基づき劣化メカニズムを物理的にモデル化する重要性を説きます。信頼性設計の精度を高めたいエンジニア必読の内容です。