エレクトロニクス 「応力」を消せば寿命が見える
温度や応力ごとにバラバラになる耐久試験データにお困りではありませんか？本記事ではラーソン・ミラー則を用い、時間・温度換算則によってデータを一つの「マスターカーブ」に統合する設計思想を解説。複雑な劣化現象を数式で支配し、未試験領域の寿命を予測する極意を伝授します。
エレクトロニクス
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エレクトロニクス ウイスカの原因はメッキ不良ではない… 薄膜工程が必然的に抱える残留応力の正体
ウイスカはメッキ不良ではありません。薄膜形成で不可避に生じる残留応力が原因です。メッキが特殊工程とされる理由を解説します。
エレクトロニクス マンハッタン現象は偶然ではない… はんだが“動く”物理的理由
マンハッタン現象は作業ミスではありません。左右非対称な加熱や温度差により、表面張力で溶融はんだが移動する物理必然です。押さえる対策ではなく、設計で防ぐ本当の考え方を解説します。
エレクトロニクス はんだは“冷やし方”で寿命が決まる… 急冷はなぜ効くのか
はんだ付け後の冷却条件が寿命を左右します。緩冷では結晶粒が粗大化しクラックが進展しやすくなります。急冷で微細組織を形成し疲労寿命を延ばす理由を、トラブル防止の視点で解説します。