「千時間無故障」の落とし穴 ――なぜ製品は市場で“突然死”するのか？

■問題提起：スペック内試験の安心が最大のリスクになる

「規定の条件で1,000時間試験し、故障ゼロだった。だから設計は完璧だ。」

この判断は、技術現場において最も危険な思考のひとつです。

実際、市場で発生する重大トラブルの多くは、スペックの「すぐ外側」に潜む未知の故障モードによって引き起こされます。スペック試験に合格し、自信を持って送り出した製品ほど、予期せぬ“突然死”のリスクを内包しているという逆説。なぜなら、従来のスペック試験は本質的に「既知の領域の確認」に過ぎず、故障の本質に迫る「未知領域の探索」ではないからです。

■メカニズムの深掘り：時間軸だけの評価が生む盲点

多くの信頼性試験は、単なる「時間軸の延長」だけで評価されがちです。しかし、物理的な劣化現象は決して単純な線形（右肩下がり）ではありません。

材料劣化の多くは拡散則に従い、ある特定の**変曲点（ニーポイント）**を境に、劣化速度が指数関数的に加速します。規定のストレス下でいくら時間を延ばしても、以下のような市場特有の破壊メカニズムは顕在化しません。

瞬間的な過負荷による応力集中

熱と湿度の複合ストレスによる化学変化

局所劣化が呼び込む絶縁破壊の連鎖

「試験では無故障」という結果は、単に変曲点の手前で測定を止めているだけかもしれないのです。

■解決の視点：限界を掴む「設計思想」への転換

信頼性設計の核心は、「壊れないこと」を祈るのではなく、「壊れ方」を完全に掌握することにあります。そのためには、定点観測的な試験を卒業し、あえて限界を叩く試験思想への転換が必要です。

低ストレス法：劣化の変曲点を物理的に特定し、寿命の「崖」がどこにあるかを知る。

ステップストレス法：段階的に負荷を高め、設計上の安全余裕を「数値」で可視化する。

故障モード解析：破壊に至る物理プロセスを科学的に特定し、フィードバックする。