統計の基礎,統計的推定・検定の原理と解釈について,演習を交えながら,丁寧にわかりやすく解説する特別セミナー！！
- 講師
FIA 代表 福山 紅陽 先生 元 三菱マテリアル（株）分析評価部門で，XPS（X線光電子分光装置） SIMS（2次イオン質量分析装置）のオペレーション，解析，分析技術の高精度化に従事
- 日時
- 会場
- ※本セミナーはWEB受講のみとなります。
- 受講料
- （消費税率10%込）1名：49,500円 同一セミナー同一企業同時複数人数申込みの場合 1名：44,000円
- テキスト
受講概要
受講形式 WEB受講のみ ＊本セミナーは、Zoomシステムを利用したオンライン配信となります。 受講対象 ・製造業で物理量に関する理工学実験・検査・測定に携わる方 ・推定などの統計解析をこれから始めてみようという方 ・すでに統計解析をやっているが，原理の理解に不安のある方 予備知識 高校卒業程度の数学の基本的な知識 ただし，微分・積分や複雑な関数の知識は不要 習得知識 1)平均，分散，標準偏差などの値の信頼性と標本サイズとの関係を理解できる 2)母平均の推定，母平均の差の推定などの原理を理解できる 3)Excel関数を利用して，母平均の推定，母平均の差の推定などを実行できる 4)解析結果を正しく解釈できる など 講師の言葉 製造業では研究，開発，量産，出荷後対応の各工程で理工学実験や統計解析を行う必要が あります。 しかし，解析の基本原理を理解していないために解析手法や適用対象を誤ったり，正しい 結果が得られているのにその解釈・結論を誤ってしまうような例も少なくありません。 本講義では，統計的推定・検定の基本的な手法について，Microsoft Excel（2010以降） の関数を利用して自力で解析・解釈できるようになることを目標とします。 各種手法の原理的な考え方はほぼ共通なので，講義では，最も基本的な母平均の推定， 母平均の差の推定に絞り，基礎知識を準備したうえで丁寧に解説します。そのほかの手法 については，独習できる詳しい解説資料とExcelサンプルファイル（Excel 2010以降でのみ動作） を配布します。
プログラム
1. 真値，測定値，誤差 1.1 誤差は永久にわからないから，誤差を求めることはあきらめる 1.2 真値も永久にわからないが，真値の推定値ならわかる 2. 平均，分散，標準偏差 2.1 平均: 多数のデータが示す全体的な特徴をひとことで表したもの 2.2 偏差: 平均という基準からのずれを表したもの 2.3 分散: ばらつきを偏差の2乗に着目してひとことで表したもの 2.4 標準偏差: 分散の平方根をとって，元の次元に戻したもの 3. 母集団と標本 3.1 標本の特性から母集団の特性を推定する。 3.2 母集団の特性は知りたいもの。標本の特性は実際にわかるもの 3.3 全数検査であっても，測定値は標本として扱う 4. 分布とはなにか? 4.1 いろいろな分布 4.2 物理量の測定値は正規分布で近似できることが多い 4.3 相対度数，確率，確率密度，累積確率の違い 4.4 累積確率のグラフの読みかた 4.5 ばらつきとかたよりの違い 5. 標本サイズと信頼性 5.1 生データの分布と標本平均という量の分布の違い 5.2 平均をとれば，どんな分布も正規分布に近づく 5.3 測定を繰り返しても生データのばらつきは減らない 5.4 分散の式で，n−1で割ると母分散をかたよりなく推定できる 5.5 分散の式に登場するn−1の意味 5.6 いつもn−1で割るとは限らない 6. 統計的推定の原理 6.1 推定は数値で答える。検定はYes，Noで答える 6.2 検定より推定のほうが望ましい 6.3 どの解析手法を選択すればよいか? 6.4 母平均の推定（母分散既知/未知の場合）: 平均の値はどのくらいか? 6.5 両側信頼区間と片側信頼区間 6.6 信頼区間の意味 6.7 信頼率が高いと，知りたいことが曖昧になる 6.8 母平均既知の場合と未知の場合で何が変わるか? 6.9 母平均の差の推定（母分散既知/未知の場合）: 試料間の差はどのくらいか? 6.10 無意味な有意差 6.11 標本サイズを増やせばどんな僅差も有意差になる 以下，解説資料のみ 6.12 母分散の推定: ばらつきはどのくらいか? 6.13 母分散の比の推定: 工程変更によるばらつきの変化はどのくらいか? 6.14 正規分布に従わない場合に母平均・母分散を推定するとどうなるか? 6.15 母平均の検定（母分散既知の場合）: 製品は不良品として出荷停止にすべきか? 6.16 第1種の誤り（生産者危険）と第2種の誤り（消費者危険） 6.17 母平均の推定における標本サイズの決めかた 6.18 実験の3原則（実験の反復，局所管理，無作為化） 6.19 各種推定・検定手順のまとめ 質疑・応答
講師紹介
略歴
1993年:東京工業大学大学院 理工学研究科 無機材料工学専攻 修士課程 修了。
1993年:三菱マテリアル株式会社 入社。
分析評価部門で，XPS（X線光電子分光装置），SIMS（2次イオン質量分析装置）の
オペレーション，解析，分析技術の高精度化に従事。
1997年:三菱マテリアル株式会社 退職。
1997年:協和界面科学株式会社 入社。
技術部門で，接触角計，表面張力計の研究・開発・測定業務に従事。
2004年:協和界面科学株式会社 研究開発部長。
2009年:協和界面科学株式会社 退職。
2010年:FIA 創業