信頼性の基礎知識,信頼性加速試験条件の設定,製品が使われる環境での耐用寿命の推定方法,信頼性目標をクリアする為のサンプルサイズ・試験時間の設定の仕方について,演習を踏まえ詳細に分かりやすく解説する特別セミナー！！
- 講師
M.A信頼性技術オフィス 代表 本山 晃 先生 松下電工（株）綜合研究所，パナソニック（株）解析センター主幹技師を経て現職
- 日時
- 会場
- ※本セミナーはWEB受講のみとなります。
- 受講料
- （消費税等込み）1名：49,500円 同一セミナー同一企業同時複数人数申込みの場合 1名：44,000円
- テキスト
受講概要
受講形式 WEB受講のみ ＊こちらのセミナーはZoomシステムを使用したオンラインセミナーとなります。 受講対象 製品・回路設計、製品評価・実験、および品質保証業務に携わっている技術者 最近、信頼性評価や試験業務に携わった方々には特に有益 予備知識 Excelを使用できるレベル 持参品 Excelを搭載したパソコン 習得知識 1）製品に期待される耐用寿命を満足していることを検証する信頼性評価法の立案 2）初期故障に対して、信頼性目標を満足するためのスクリーニング計画の立案 3）偶発故障や摩耗故障に対して、信頼性目標を満足するための試験計画の立案 など 講師の言葉 近年の電子応用商品は小型化・省エネ化を目指して搭載部品レベルでも微細加工した部品や超薄型部品が搭載されていますが、微細加工や薄膜素材の積層などでパターンや素材間の電界強度が大きくなり市場でのトラブル増加が懸念されています。 このため、設計段階からFMEA・FMEAや製品の信頼性試験などを用いて市場トラブルゼロを目指した活動が行われていますが、市場トラブルがゼロになっているわけではありません。 そこで、本セミナーでは製品の信頼度を評価するための ①信頼性の基礎知識から信頼性加速試験条件の設定の仕方、 ②製品の使われる環境での耐用寿命の推定の仕方に加えて ③信頼性目標をクリアする為のサンプルサイズと試験時間の設定の仕方を詳細に紹介します。
プログラム
1. 今皆さんが実施している評価試験のサンプルサイズを考える 2. 信頼性の基礎 1）信頼性用語の概要 2）市場で発生する故障数と使用時間の関係 3）市場の故障率や累積故障確率の時間分布 3. 初期故障と偶発故障を未然に防ぐための信頼性試験法 1）信頼性解析で用いる故障率、累積故障確率の分布 2）初期故障を低減するための信頼性試験 3）演習1：初期故障を1年で50ppmにするためのスクリーニング条件の考え方 4）偶発故障率λやMTTFを推定するための信頼性試験 5）演習2：MTTF100万時間を保証するための信頼性試験の条件設定（試験時間とサンプルサイズ設定） 4. 短寿命問題を未然に防ぐための耐用寿命予測法 1）電子機器の耐用寿命を予測するためのシステム構成 2）寿命予測に用いる加速モデルと信頼性試験 3）使用温度と耐用寿命の関係（温度加速モデルの寿命予測式） 4）演習3：加速試験結果を基にした温度加速モデル式の推定演習 5）最尤法を用いた温度加速モデル式の推定 6）演習4：最尤法を用いた温度加速モデル式の推定演習 7）温度加速定数を用いた市場温度の平均値の推定 8）演習5：JEITA規格のｻﾝﾌﾟﾙｻｲｽﾞと試験時間の事例検証 9）電子機器の耐用寿命予測のプロセス 講師紹介 略歴 ・1977年4月：松下電工㈱入社 綜合技術研究所配属 ・2003年～2012年：Panasonic㈱ 解析センター 主幹技師 ・2012年9月 ：大阪大学大学院工学研究科 招聘教員 ・2014年11月：Panasonic㈱ 退職 ・2015年 6月：M.A信頼性技術オフィス 設立