統計の基礎,統計的推定・検定の原理と解釈について,
演習を交えながら,丁寧にわかりやすく解説する特別セミナー！！
- 講師
FIA 代表 福山 紅陽 先生 元 三菱マテリアル（株）分析評価部門で，XPS（X線光電子分光装置）， SIMS（2次イオン質量分析装置）のオペレーション，解析，分析技術の高精度化に従事。
- 日時
- 会場
- 受講料
- （消費税等込み）1名：49,500円 同一セミナー同一企業同時複数人数申込みの場合 1名：44,000円
- テキスト
受講概要
受講対象 ・製造業で物理量に関する理工学実験・検査・測定に携わる方 ・推定などの統計解析をこれから始めてみようという方 ・すでに統計解析をやっているが，原理の理解に不安のある方 予備知識 高校卒業程度の数学の基本的な知識。 ただし，微分・積分や複雑な関数の知識は不要。 習得知識 1)平均，分散，標準偏差などの値の信頼性と標本サイズとの関係を理解できる 2)母平均の推定，母平均の差の推定などの原理を理解できる 3)Excel関数を利用して，母平均の推定，母平均の差の推定などを実行できる 4)解析結果を正しく解釈できる 講師の言葉 製造業では研究，開発，量産，出荷後対応の各工程で理工学実験や統計解析を行う 必要があります。 しかし，解析の基本原理を理解していないために解析手法や適用対象を誤ったり， 正しい結果が得られているのにその解釈・結論を誤ってしまうような例も少なくあり ません。 本講義では，統計的推定・検定の基本的な手法について，Microsoft Excel（2010以降） の関数を利用して自力で解析・解釈できるようになることを目標とします。 各種手法の原理的な考え方はほぼ共通なので，講義では，最も基本的な母平均の推定， 母平均の差の推定に絞り，基礎知識を準備したうえで丁寧に解説します。そのほかの手法 については，独習できる詳しい解説資料とExcelサンプルファイル（Excel 2010以降でのみ動作） を配布します。
プログラム
1. 真値，測定結果，誤差
1.1 真値，測定結果，誤差
1.2 誤差は永久にわからない
1.3 真値も永久にわからない
2. 平均とばらつき
2.1 「平均」の意味: 平らに均す
2.2 平均のまわりの「ばらつき」の指標をどう表すか?
3. 全数検査と抜取検査
3.1 母集団と標本の違い
3.2 知りたいことと実際にわかることの違い
3.3 全数検査でも測定結果は標本として扱う
4. 分布とはなにか?
4.1 いろいろな分布
4.2 正規分布の特徴
4.3 相対度数，確率，確率密度，累積確率の違い
4.4 累積確率のグラフの読みかた
4.5 ばらつきとかたよりの違い
5. 標本サイズと信頼性
5.1 生データの分布と平均という量の分布の違い
5.2 平均をとれば，どんな分布も正規分布に近づく
5.3 測定を繰り返せばばらつきは減るか?
5.4 分散の式で，n−1で割ることの効果
5.5 分散の式に登場するn−1の意味
5.6 いつもn−1で割るとは限らない
6. 統計的推定・検定の原理
6.1 推定・検定とは?
6.2 検定より推定のほうが望ましい
6.3 どの解析手法を選択すればよいか?
6.4 母平均の推定（母分散既知/未知の場合）: 平均の値はどのくらいか?
6.5 両側信頼区間と片側信頼区間
6.6 信頼区間の意味
6.7 信頼率が高いと，得るものが少ない
6.8 母平均既知の場合と未知の場合で何が変わるか?
6.9 母平均の差の推定（母分散既知/未知の場合）: 試料間の差はどのくらいか?
6.10 無意味な有意差
6.11 標本サイズを増やせばどんな僅差も有意差になる
以下，解説資料のみ
6.12 母分散の推定: ばらつきはどのくらいか?
6.13 母分散の比の推定: 工程変更によるばらつきの変化はどのくらいか?
6.14 正規分布に従わない場合に母平均・母分散を推定するとどうなるか?
6.15 母平均の検定（母分散既知の場合）:
製品は不良品として出荷停止にすべきか?
6.16 第1種の誤り（生産者危険）と第2種の誤り（消費者危険）
6.17 母平均の推定における標本サイズの決めかた
6.18 実験の3原則（実験の反復，局所管理，無作為化）
6.19 各種推定・検定手順のまとめ
講師紹介
2010年10月 : FIA 創業。
2009年12月 : 協和界面科学株式会社 退職。
2004年5月 : 協和界面科学株式会社 研究開発部長。
1997年4月 : 協和界面科学株式会社 入社。
技術部門で，接触角計，表面張力計の研究・開発・測定業務に従事。
1997年3月 : 三菱マテリアル株式会社 退職。
1993年4月 : 三菱マテリアル株式会社 入社。
分析評価部門で，XPS（X線光電子分光装置），SIMS（2次イオン質量分析装置）の
オペレーション，解析，分析技術の高精度化に従事。
1993年3月 : 東京工業大学大学院 理工学研究科 無機材料工学専攻 修士課程 修了。