信頼性の基礎,電子機器の故障モードに対応した信頼性加速試験の条件設定の仕方,
耐用寿命推定の仕方について,ＰＣ演習を交え具体的に分かりやすく解説する特別セミナー！！
- 講師
M.A信頼性技術オフィス 本山 晃 先生 松下電工（株）綜合研究所，パナソニック（株）解析センター主幹技師を経て現職
- 日時
- 会場
- 受講料
- （消費税等込み）1名：49,500円 同一セミナー同一企業同時複数人数申込みの場合 1名：44,000円
- テキスト
受講概要
受講形式 会場・WEB 受講対象 製品・回路設計、製品評価・実験、および品質保証業務に携わっている技術者。 最近、信頼性評価や試験業務に携わった方々には特に有益。 予備知識 Excelを使用できるレベル 習得知識 1)製品に期待される耐用寿命を満足していることを検証する信頼性評価法を立案できるようになる 2)また、初期故障に対しては信頼性目標を満足するためのスクリーニング計画を立案できるようになる 3)偶発故障や摩耗故障に対しては信頼性目標を満足するための試験計画を立案できるようになる 持参品 Ｅｘｃｅｌを搭載したノートパソコン 講師の言葉 近年、電子応用商品には小型化・省エネ化を目指して搭載部品レベルでも微細加工した部品や 超薄型部品が搭載されています。 一方、微細加工や薄膜素材の積層などでパターン間や素材間の電界強度が大きくなるため市場での トラブル増加が懸念されます。 そこで、これらのトラブルをなくすために設計段階からFMEA・FMEAや製品の信頼性試験などを用いて 不良ゼロを目指した活動がなされていますが、市場トラブルがゼロになっているわけではありません。 そこで、本セミナーでは高信頼性の製品を設計・評価するために、信頼性の基礎知識から信頼性加速 試験条件の設定の仕方、特に製品の使われる環境での耐用寿命の推定の仕方を詳細に紹介します。
プログラム
1. 電子機器の市場におけるトラブル事例の紹介 2. 信頼性の基礎 1）信頼性用語の解釈 2）市場での故障数の分布 3）市場での故障率や累積故障確率の分布 3. 故障モードに対応した信頼性加速試験の条件設定 1）信頼性解析で用いる故障率、累積故障確率の分布 2）初期故障を低減するための信頼性加速試験 3）演習1：初期故障を1年で50ppmにするための信頼性加速試験の条件設定 4）偶発故障率λやMTTFを推定するための信頼性試験 5）演習2：MTTF100万時間を保証するための信頼性試験の条件設定（試験時間とサンプルサイズ設定） 4. 電子機器の耐用寿命予測 1）電子機器の耐用寿命を予測するためのシステム構成 2）寿命予測に用いる加速モデルと信頼性試験 3）使用温度と耐用寿命の関係（温度加速モデルの寿命予測式） 4）演習3：加速試験結果を基にした温度加速モデル式の推定演習 5）最尤法を用いた温度加速モデル式の推定 6）演習4：最尤法を用いた温度加速モデル式の推定演習 7）温度加速定数を用いた市場温度の平均値の推定 8）演習5：市場(サウジアラビア)温度環境での耐用寿命の検証 9）電子機器の耐用寿命予測のプロセス 講師紹介 学会・関連団体での活動 ・JAXA 民生コンポーネント活用検討委員（2017/10～ ） ・日本信頼性学会 関西支部顧問、広報委員 ・日本信頼性学会 信頼性試験研究会幹事、故障物性研究会幹事 略歴 ・1977年4月：松下電工㈱入社 綜合技術研究所配属 ・2003年～2012年：Panasonic㈱ 解析センター 主幹技師 ・2012年9月 ：大阪大学大学院工学研究科 招聘教員 ・2014年11月：Panasonic㈱ 退職 ・2015年 6月：M.A信頼性技術オフィス 設立 研究受賞 ・1986年 米国継電器工業会 第2位受賞 ・1989年 日本電機工業会 技術功労者 発達賞 ・1997年 日本信頼性学会 論文 奨励賞 ・2009年 日本信頼性学会 優秀記事コラム賞 ・2010年 日本信頼性学会 特別賞 主な出版書籍 ・1999年 品質工学応用講座 電子・電気の技術開発 ・2009年 電気化学測定と解析テクニック 事例集 ・2009年 高分子材料の劣化と寿命予測 ・2011年 電子機器技術者のための新しい高信頼性技術と管理手法