日本発、世界標準：車載・一般用途半導体部品認定ガイドラインを理解し実務に役立てるための
品質・信頼性を確保する新しい信頼性認定規格（IEC 60749-43）の詳細解説講座
＜半導体集積回路信頼性認定ガイドライン（EDR-4708B）＞
高品質・高信頼性で安心できる部品供給を少ない試験コスト，短い試験期間，既存試験データの有効活用で実現するための
ガイドライン（EDR-4708B）の詳細について今後のビジネスへのインパクト，展開動向を交えてわかりやすく解説する特別セミナー！！
- 講師
一般財団法人 日本規格協会 国際標準化ユニット 国際規格開発普及グループ 伊賀 洋一 先生
日本電気（株）にて開発・信頼性品質・技術等に従事，ＩＳＯ/ＴＣ２９２国際プロジェクトリーダ、
国内審議委員会委員長等を経て定年退職，その後現在に至る
- 日時
- 会場
- 受講料
- 1名：43,200円 同時複数人数申込みの場合 1名：37,800円
- テキスト
受講概要
予備知識
初心者としての半導体信頼性保証体系とその技術
習得知識
半導体信頼性品質技術、認定規格とその試験方法
講師の言葉
新興国の半導体の品質、信頼性レベルが不明確である車載用を含めた半導体部品の品質認定方法が分からない等の問題に対して、 一般社団法人電子情報技術産業協会（JEITA）半導体信頼性技術小委員会では、２０１１年４月にガイドラインとして 「半導体集積回路信頼性認定ガイドライン（EDR-4708B）」を制定し、今日に至っております。 現在、車載用半導体集積回路の認定規格としてはＡＥＣ－Ｑ１００が良く知られていますが、ＡＥＣ－Ｑ１００は摩耗故障に 注目した過度な強度・寿命を追求する規格になっており、本質的な品質に関する観点が抜けているという課題があります。 本ガイドライン（EDR-4708B）は、半導体部品ユーザが製品に求める「高品質・高信頼性で安心できる製品供給」を 少ない試験コスト、短い試験期間、既存試験データの有効活用で実現するためのガイドラインとして制定いたしました。 また、本ガイドラインは、日本発の“国際標準化（ＩＥＣ化）”に目途をたてました。今後のビジネスへのインパクトが 注目される内容および展開動向について、わかり易く解説いたします。
プログラム
～本ガイドライン（EDR-4708B）の概要と関連紹介～ ① 概要 『日本発、IEC 60749-43の紹介とビジネスへのインパクト検証』 ② 詳細 前半 『品質グレードと用途～摩耗故障』 1. 目的 2. 適用範囲 3. 品質グレードと用途 3.1 品質グレードの定義（事例） 4. 故障分布 4.1 初期故障 4.1.1 初期故障率 4.2 平均故障 4.2.1 平均故障率 4.3 摩耗故障 ③ 詳細 後半 『信頼性試験～解説』 5. 信頼性試験 5.1 信頼性試験計画 5.2 信頼性試験項目 5.2.1 ファミリの考え方 5.2.1.1 ファミリによる寿命試験の実施 5.2.1.2 ファミリによる初期故障率の検証 5.2.2 ミッションプロファイル 5.2.2.1 車載エンジン周辺用途のミッションプロファイルを考慮した信頼性試験計画事例（１） 5.2.2.2 車載エンジン周辺用途のミッションプロファイルを考慮した信頼性試験計画事例（２） 5.2.2.3 車載キャビン周辺用途に対する信頼性試験計画事例 6. 強度試験（項目） 7. 参考試験 8. スクリーニング 9. 計算式，数値等の仮定のまとめ表 10. ミッションプロファイルの計算事例 11. 参考文献
講師紹介
１９７５年４月ＮＥＣ日本電気入社、半導体集積回路事業部生産技術部配属その後民生製品生産技術製品担当、九州日本電気、 米国ＮＥＣローズビル工場、米国ＮＥＣサンタクララ、製品開発、ＰＫＧ・テスト開発、信頼性品質・技術等に従事。 社外では２００４年度よりＳＥＭＩＴＲＣ委員会委員長、ＪＥＩＴＡ半導体部会信頼性技術小委員会サブコミティ・ 認定ＷＧリーダー、ＩＳＯ/ＴＣ２９２国際プロジェクトリーダ、国内審議委員会委員長に従事。 ２０１４年３月ルネサスエレクトロニクス（ＮＥＣ、日立、三菱の３社統合）定年退職。 ２０１４年４月より日本規格協会及び東芝に非常勤嘱託勤務。