加速寿命試験と加速寿命データ解析の基礎，寿命データ解析法（特にワイブル解析），
信頼性予測法，確率プロットが直線にのらない場合の対処法等についてＰＣ演習を交えて解説する特別セミナー！！
- 講師
金沢工業大学 大学院工学研究科 高信頼ものづくり専攻 客員教授 工学博士 二川 清 先生
日本電気（株），ＮＥＣエレクトロニクス（株）にて故障解析技術の
研究・開発に従事の後，定年退職，その後現職
- 日時
- 会場
- 受講料
- 1名：48,600円 同時複数人数申込みの場合 1名：43,200円
- テキスト
受講概要
受講対象
・電子部品、半導体デバイスの信頼性担当者 ・寿命加速試験や信頼性予測に関連した業務に携わる技術者、研究者 ・ワイブル解析の基礎を習得したい人
予備知識
特に無いが、基本的な統計の概念を理解していることが望ましい． また、Excelの基本操作を習得していることが望ましい．
習得知識
（１）加速寿命試験、寿命評価技術の基礎が理解できる （２）寿命データが通常のデータとどこが違うのかが理解できる． （３）寿命データ解析法（特にワイブル解析）の基礎が修得できる． （４）信頼性予測法の基礎が修得できる． （５）寿命データを解析できるようになる． （６）信頼性予測ができるようになる．
持参品
Excel搭載のノートパソコン
講師の言葉
本セミナーでは、寿命評価解析技術の基本である加速寿命試験法と寿命データ解析法について解説し演習します。 信頼性試験では加速寿命試験は必須です．加速寿命試験では対象や目的ごとに加速手段は異なりますが、基本的には温度、 電圧・電界、電流（密度）、湿度、熱・機械的ストレス、などによる加速が行われます． まず、加速寿命試験と加速寿命データ解析の基礎を講義します．その後、加速寿命試験の結果得られる寿命データの 解析の仕方をワイブル解析に的を絞って講義し、演習します． また、解析結果を元にした信頼性予測法を解説し、演習します．対数正規解析についてもふれます． 実際にExcelを用いてワイブル解析と信頼性予測ができるところまで解説し演習します． 応用編として、確率プロットが直線にのらない場合の対処法と解析の実態を紹介します． 後者としてはIRPS (信頼性物理国際会議) の論文を対象に調査した結果を紹介します． 受講者自身がデータを持参すると演習中にそのデータを解析することもできます．理解が不十分でも解析できるように、 Excelのテンプレートも提供します．Excelテンプレートと演習中に作成したファイルは持ち帰って、有効に活用ください．
プログラム
1. 加速寿命試験の基礎 (1)温度・電流密度・湿度・電圧／電界加速 (2)律速過程 (3)ストレス強度モデル (4)マイナー則 (5)製品での評価とTEGでの評価 (6)信頼性試験項目と試験条件の例 (7)抜取り試験：OC曲線と試験規模 2． 加速寿命データ解析に必要な基礎的事項 (1)少数サンプルの危険性 (2)バスタブカーブ (3) 寿命データの種類、解析の目的、解析法の種類 (4) 寿命データ解析に必要な確率・統計の基礎的概念・用語 3． 寿命データ解析の基礎 (1)寿命データ解析の位置付けと本講義で扱う範囲 (2)寿命データ解析と信頼性予測に必要な寿命分布 (3)寿命データ解析法 a. 寿命データの分類 b. 寿命データの例とタイプ別解析法概要 c. ワイブル確率プロットによる解析 d. 対数正規確率プロットによる解析 e. ワイブル型累積ハザードプロットによる解析 f. 故障率を推定し確率プロットを行う方法（H =>F解析） g. アレニウスプロット法 (4) 信頼性予測法 a. 指数分布以外の故障率の推定法 b. パーセント点の推定法：ワイブル分布と対数正規分布 c. 指数分布の場合の故障率の区間推定 4． Microsoft Excelを使った寿命データ解析と信頼性予測 (1) Excelによるワイブルプロットの手順 (2) Excelによる累積ハザード解析の手順 (3) Excelによる信頼性予測 5． 応用編 (1) 確率プロットで直線にならない場合の対処法 (2)．IRPS (信頼性物理国際会議) にみる寿命データ解析の使われ方 (3) 対数正規分布に基づく解析法 6． 演習：Excelを使った寿命データ解析と信頼性予測
講師紹介
略歴： 1972年 大阪大学 基礎工学部 物性物理工学科 卒業 1974年 大阪大学 大学院基礎工学研究科 物理系物性学専攻 修士課程 修了 1974年 日本電気（株）（NEC）入社．スパコン、メインフレーム用LSIなどの信頼性技術を担当 1992年 同社 主管研究員．故障解析技術の研究開発 1995年 論文提出により工学博士（大阪大学） 2001年〜現在 大阪大学大学院工学研究科、情報科学研究科にて非常勤講師、特別講師など 2002年11月 NECエレクトロニクス（株）がNECから分社 2005年 NECエレクトロニクス（株）シニアプロフェッショナル 2007年〜現在 金沢工業大学大学院 客員教授 2008年〜現在 芝浦工業大学 非常勤講師 2009年 NECエレクトロニクス（株）定年退職 2010年〜2012年 大阪大学大学院 特任教授 2013年〜現在 日本学術振興会ナノプローブテクノロジー167委員会顧問 この間、日本信頼性学会（REAJ）副会長、REAJ-LSI故障解析研究会主査、 電子情報技術産業協会（JEITA）半導体ロードマップ委員会（STRJ）故障解析技術TF（後、SWG）リーダー、JEITA半導体信頼性技術委員会故障解析WGリーダー、東京理科大学非常勤講師、NEC社内研修所（後、NECユニバーシティー）講師、日本科学技術連盟（日科技連）講師、日科技連信頼性・保全性シンポジウム組織委員、LSI（後、ナノ）テスティングシンポジウム企画運営委員など 著作： １）「新版 信頼性ハンドブック」，（編著）日科技連出版社，2014年、6月. ２）「薄膜の評価技術ハンドブック」，（共著），テクノシステム、2013年1月． ３）「はじめてのデバイス評価技術 第2版」，森北出版、2012年9月． ４）「新版 LSI故障解析技術」，日科技連出版社，2011年9月． ５）「新・走査電子顕微鏡」，（共著），共立出版，2011年6月． ６）「LSIの信頼性」、（編著），日科技連出版社，2010年10月． ７）「信頼性問題集」、（編著），日科技連出版社，2009年12月． ８）「信頼性七つ道具」，（共著），日科技連出版社，2008年8月． ９）「故障解析技術」，日科技連出版社，2008年10月． １０）「LSIテスティングハンドブック」（編著），オーム社、2008年11月． １１）「LSI故障解析技術のすべて」，工業調査会，2007年11月． １２）「金属微細配線におけるマイグレーションのメカニズムと対策」（共著）、サイエンス&テクノロジー、2006年12月． １３）「Vortex Electronics and SQUIDs」（共著），Springer Verlag，2004年1月． １４）最新電子部品・デバイス実装技術便覧」（共著）、R＆Dプランニング、2002年12月． １５）「ナノ光工学ハンドブック」，（共著），朝倉書店，2002年11月． １６）「FIB・イオンミリング技法Q&A」（共著），アグネ承風社，2002年9月． １７）「走査電子顕微鏡」（共著），共立出版，2000年6月． １８）「はじめてのデバイス評価技術」，工業調査会，2000年1月． １９）「半導体大事典」（共著），工業調査会，1999年12月． ２０）「電子・イオンビームハンドブック第３版」（共著），日刊工業新聞出版，1998年10月． ２１）「信頼性ハンドブック」（共著），日科技連出版，1997年3月． ２２）「電子顕微鏡Q&A -先端材料解析のための手引き」（共著），アグネ承風社,1996年12月． ２３）「ロジックLSI技術の革新」（共著），サイエンスフォーラム，1995年8月． ２４）「信頼性の歴史」（共著），日本信頼性学会，1993年11月． ２５）「商品開発と品質保証」（共著）、フジテクノシステム、1993年4月． ２６）「デバイス・部品の故障解析」（共著），日科技連出版，1992年9月． ２７）「エレクトロニクスの静電気対策」（共訳）、マグロウヒル出版、1992年7月． ２８）「パソコン信頼性解析法」（共著）、日科技連出版、1991年7月． ２９）「次世代半導体工場センシング技術」（共著）、サイエンスフォーラム、1988年11月． ３０）「LSIハンドブック」（共著）、オーム社、1984年11月． 所属学会など（役職）： ナノテスティング学会（企画運営委員）、日本信頼性学会（「LSI故障解析研究会」主査）、応用物理学会